最終更新:2014-06-16 (月) 12:13:17 (1193d)  

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Joint Test Action Group

本来はICバウンダリスキャン?用の規格だったが、最近はCPUデバッグ用インタフェースやFPGA / CPLDの書き込み用インタフェースとして使う。

概要

  • 1985年、欧州企業が集まり、LSIのテストにおける問題を解決するための団体としてJTAG(Joint Test Action Group)を設立
  • 同団体によりLSIのバウンダリスキャンテストのための規格「IEEE 1149.1?(通称JTAG)」が策定され、1990年に発表

バウンダリスキャン?

  • ICの端子に影響を与えずに入出力端子の状態を調べること
  • ICの本来の動作を停止して入出力端子を自由に操作すること

TAP

  • Test Access Portのこと

端子

  • シリアル通信を介して回路のテスト/解析を行うための最大5つの信号I/O(JTAGポート)を定義している
    端子名意味説明
    TDI?Test Data Inputデータ入力
    TDO?Test Data Outputデータ出力
    TCK?Test Clockクロック
    TMSTest Mode SelectTAPコントローラの遷移
    TRST?Test Resetリセット

JTAG ICE?, JTAGデバッグ?

  • ICEが高価になるので最近はテスト用のJTAG端子をデバッグ用のICE端子として利用してるチップが多い。

JTAGコネクタ

汎用

ALTERAFPGA

ARM

SWD

  • Serial Wire Debug - 少ない本数でデバッグ可能

ARM純正

  • ULINK?
  • DSTREAM?

TI

関連

参考